发明名称 SOI基板的制造方法、和半导体装置的制造方法
摘要 本发明的目的在于提供一种利用氢离子注入法的SOI基板的制造方法,在该SOI基板中,底基板由玻璃基板那样的耐热性低的基板构成,并且包括表面的平坦性高且厚度为薄的100nm以下的半导体层。中间夹着接合层将半导体基板和底基板贴在一起。透过进行加热处理来分割半导体基板,可以获得固定有从半导体基板分离的半导体层的底基板。透过对该半导体层照射雷射光束并使它熔化,提高半导体层的表面的平坦性,且恢复其结晶性。在照射雷射光束之后,透过蚀刻等来减薄半导体层。透过以上方法,可以制造SOI基板,在该SOI基板中,在底基板上存在其厚度为100nm以下的单晶半导体层。
申请公布号 TW200849465 申请公布日期 2008.12.16
申请号 TW097111178 申请日期 2008.03.28
申请人 半导体能源研究所股份有限公司 发明人 宫入秀和;下村明久;沟井达也;比嘉荣二;永野庸治
分类号 H01L21/762(2006.01);H01L21/84(2006.01) 主分类号 H01L21/762(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本