发明名称 |
测试装置 |
摘要 |
本发明是有关于一种进行电子组件的测试的测试装置,其具备有:测试模块,进行与电子组件的测试信号的收发;测试头,具有能够装卸的保持测试模块的多个测试头(TH)槽;诊断模块,进行测试模块的诊断;连接装置,分别与多个TH槽电性连接,且具有能够装卸的保持诊断模块的多个性能板(PB)槽。在设定的性能板(PB)槽中所保持的设定的诊断模块可诊断与设定的性能板(PB)槽电性连接的设定的测试头(TH)槽中所保持的设定的测试模块。 |
申请公布号 |
CN100442073C |
申请公布日期 |
2008.12.10 |
申请号 |
CN200480008269.9 |
申请日期 |
2004.03.18 |
申请人 |
爱德万测试株式会社 |
发明人 |
涉谷敦章 |
分类号 |
G01R31/3181(2006.01);G01R35/00(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/3181(2006.01) |
代理机构 |
北京中原华和知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
寿宁 |
主权项 |
1、一种测试装置,为进行电子组件的测试的测试装置,其特征在于其包括:测试模块,进行与前述电子组件的测试信号的收发;测试头,具有能够装卸的保持前述测试模块的多个测试头槽;诊断模块,进行前述测试模块的诊断;以及连接装置,分别与前述多个测试头槽电性连接,且具有能够装卸的保持前述诊断模块的多个性能板槽;在设定的前述性能板槽中所保持的设定的前述诊断模块可诊断与前述设定的性能板槽电性连接的设定的前述测试头槽中所保持的设定的前述测试模块。 |
地址 |
日本东京都 |