发明名称 Quality control system, quality control method, and method of lot-to-lot wafer processing
摘要 A quality control system has: a QC value storage unit, a data acquisition device, a device internal information storage unit, a recipe storage unit, a QC value prediction unit, a wafer determination unit, a recipe selection unit, and a measurement device.
申请公布号 US7463941(B2) 申请公布日期 2008.12.09
申请号 US20060395276 申请日期 2006.04.03
申请人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 发明人 OGAWA AKIRA;USHIKU YUKIHIRO;INO TOMOMI
分类号 G06F19/00;G01M99/00;G05B19/418;H01L21/02 主分类号 G06F19/00
代理机构 代理人
主权项
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