| 发明名称 | 云纹干涉载频调制测量物体变形场的方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种云纹干涉载频调制测量物体变形场的方法。该方法为在云纹干涉中，根据照明光入射角度的变化与载波条纹的空间频率成正比的关系，通过控制反射镜的偏转，改变入射试件栅照明光的入射角度，引入载波；实现干涉条纹的空间调制；利用傅立叶方法解调出物体变形的相位场，进而求出物体的变形场。本发明利用照明光入射角度的变化与载波频率之间的正比关系，可方便地通过偏转反射镜改变入射试件栅照明光的入射角度来实现干涉条纹的空间调制，实现方便、对测量环境要求低。 | ||
| 申请公布号 | CN100439861C | 申请公布日期 | 2008.12.03 |
| 申请号 | CN200610070348.3 | 申请日期 | 2006.11.28 |
| 申请人 | 山东师范大学 | 发明人 | 孙平 |
| 分类号 | G01B11/16(2006.01);G01B11/00(2006.01);G01B9/02(2006.01);G01D5/26(2006.01);G01D5/38(2006.01) | 主分类号 | G01B11/16(2006.01) |
| 代理机构 | 济南圣达专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 王书刚 |
| 主权项 | 1、一种云纹干涉载频调制测量物体变形场的方法，其特征是：在云纹干涉中，根据照明光入射角度的变化与载波条纹的空间频率成正比的关系，用对称的两束平行光照射试件栅，其中，第一平行光束(A)的入射角度使其正一级衍射光的方向沿试件栅表面法线方向传播，第二平行光束(B)的入射角度使其负一级衍射光沿试件栅表面法线方向传播，通过控制反射镜的偏转，改变两束平行光中的其中一束的入射角度来引入载波，实现干涉条纹的空间调制，利用傅立叶方法解调出物体变形的相位场，进而求出物体的变形场。 | ||
| 地址 | 250014山东省济南市历下区文化东路88号 | ||