发明名称 |
Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterelements in einem Substrat |
摘要 |
Ein Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterelements in einem Substrat umfasst ein Bilden einer Mehrzahl von Mikrohohlräumen in einem Substrat, ein Erzeugen einer Amorphisierung des Substrats, um kristallographische Defekte zu bilden, und eine Dotierung des Substrats mit Dotierungsatomen, ein Aufbringen einer amorphen Schicht auf das Substrat und ein Ausheilen des Substrats, derart, dass zumindest ein Teil der kristallographischen Defekte unter Verwendung der Mikrohohlräume beseitigt wird. Das Halbleiterelement wird unter Verwendung der Dotierungsatome gebildet.
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申请公布号 |
DE102008022502(A1) |
申请公布日期 |
2008.11.20 |
申请号 |
DE200810022502 |
申请日期 |
2008.05.07 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
GILES, LUIS-FELIPE;GOLDBACH, MATTHIAS;BARTELS, MARTIN;KUEPPER, PAUL |
分类号 |
H01L21/22;H01L21/24;H01L21/265;H01L21/328;H01L21/74 |
主分类号 |
H01L21/22 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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