发明名称 多字线测试控制电路及其控制方法
摘要 本发明揭示一种在一半导体积体装置内的多字线测试控制电路,其用于在复数个单元垫之间特定的单元垫内执行多字线测试。该多字线测试控制电路包括一多测试控制区块,其用于接收多字线测试信号并输出第一测试信号与第二测试信号,以及一多字线测试区块,其用于在复数个单元垫之间的特定单元垫内执行多字线测试,以回应第一测试信号以及第二测试信号。
申请公布号 TW200845018 申请公布日期 2008.11.16
申请号 TW097105454 申请日期 2008.02.15
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 韩熙贤;金志烈
分类号 G11C29/02(2006.01) 主分类号 G11C29/02(2006.01)
代理机构 代理人 赖安国;李政宪;吴柏昇
主权项
地址 南韩