| 发明名称 | 测试装置以及测试方法 | ||
| 摘要 | 一种测试装置(10)，具备有数个测试模组(150a～g)、数个分站控制装置(130)以及连接设定装置(140)。其中数个测试模组(150a～g)与数个受测元件(100)的任何一个连接，并供给测试信号给受测元件(100)。分站控制装置(130)控制数个测试模组(150a～g)，且分别并行测试数个受测元件(100)。连接设定装置(140)以数个分站控制装置(130)分别连接于各个受测元件(100)的方式，设定数个分站控制装置(130)与数个测试模组(150a～g)的连接形式。 | ||
| 申请公布号 | CN100432689C | 申请公布日期 | 2008.11.12 |
| 申请号 | CN200480005552.6 | 申请日期 | 2004.03.24 |
| 申请人 | 爱德万测试株式会社 | 发明人 | 市吉清司 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | G01R31/28(2006.01) |
| 代理机构 | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 寿宁 |
| 主权项 | 1、一种测试装置，适用于测试数个受测元件，其特征在于该测试装置包括：数个测试模组，与该些受测元件的任何一个连接，并供给测试信号给该些受测元件；数个分站控制装置，用以控制该些测试模组，且分别并行测试该些受测元件；以及连接设定装置，以该些分站控制装置分别连接于各个该些受测元件的方式，而设定该些分站控制装置与该些测试模组的连接形式，其中所述的连接设定装置包括：串列介面，把从该些测试模组接受的数据封包传送给该些分站控制装置；以及闲置封包产生部，当该串列介面未接受来自该些测试模组的数据封包时，为了不使该串列介面传送空的串列数据，而提供闲置封包。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||