| 发明名称 | 一种坏点补偿的方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明的实施例中公开了一种坏点补偿的方法，该方法包括：A.确定当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值；B.根据当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值，对当前需补偿的坏点进行补偿。本发明的实施例中还公开了一种坏点补偿的装置，该装置包括：获取模块和补偿模块。通过使用上述的方法和装置，可提高图像传感器的成像质量，同时还可对坏点进行快速搜索，节省检测的时间。 | ||
| 申请公布号 | CN101304485A | 申请公布日期 | 2008.11.12 |
| 申请号 | CN200810112796.4 | 申请日期 | 2008.05.26 |
| 申请人 | 北京中星微电子有限公司 | 发明人 | 沈操;王浩;周芬 |
| 分类号 | H04N5/217(2006.01) | 主分类号 | H04N5/217(2006.01) |
| 代理机构 | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人 | 宋志强;麻海明 |
| 主权项 | 1、一种坏点补偿的方法，其特征在于，该方法包括：A、确定当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值；B、根据当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值，对当前需补偿的坏点进行补偿。 | ||
| 地址 | 100083北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层 | ||