首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 EMISSIVITY-INDEPENDENT SILICON SURFACE TEMPERATURE MEASUREMENT
摘要
申请公布号 IL147788(A) 申请公布日期 2008.11.03
申请号 IL20020147788 申请日期 2002.01.23
申请人 EITAN ZEILER;ELECTRO-OPTIC RESEARCH & DEVELOPMENT LTD.;LASLIE SALEM;OMRI GOVRIN 发明人 EITAN ZEILER;LASLIE SALEM;OMRI GOVRIN
分类号 H01L;H01L21/66 主分类号 H01L
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com