发明名称 | 形成具单侧埋式导体层之半导体装置之方法 | ||
摘要 | 本发明提供形成具单侧埋式导体层之半导体装置之方法,此方法包含提供具有一沟渠之一基板,且沟渠具有一上部及一下部;形成一半导体元件于沟渠下部并暴露出沟渠上部;形成一第一介电层于沟渠上部的侧壁上;形成一第一导体层于沟渠上部并与第一介电层邻接;形成一第二介电层于第一介电层及第一导体层上;形成复数个闸极结构于基板上,其中至少一闸极结构位于第二介电层上,并与第二介电层偏置一距离;以闸极结构为遮罩,移除部份第二介电层、部份第一介电层,以形成一开口;及形成一第二导体层于开口内,藉此形成单侧埋式导体层与第一导体层电性相连。 | ||
申请公布号 | TW200843037 | 申请公布日期 | 2008.11.01 |
申请号 | TW096114933 | 申请日期 | 2007.04.27 |
申请人 | 南亚科技股份有限公司 | 发明人 | 施能泰;张明成 |
分类号 | H01L21/8242(2006.01) | 主分类号 | H01L21/8242(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 蔡玉玲 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号 |