发明名称 曝光方法及装置、以及元件制造方法
摘要 一种能在以液浸法进行曝光时运用且能获得高重叠精度的曝光方法。在透过投影光学系统将标线片图案之像投影于基板(P)上之投影区域(17P)的状态下,相对扫描基板(P)与投影区域(17P)以使基板(P)上的照射区域(SA1)曝光时,在不透过该投影光学系统之状态下,将测量光照射于与照射区域(SA1)相邻之照射区域(SA2~SA5)内,以测量位置资讯,并根据从此测量结果得到之照射区域(SA1)之位置资讯,控制投影区域(17P)与照射区域(SA1)之相对位置关系。
申请公布号 TW200842503 申请公布日期 2008.11.01
申请号 TW096146717 申请日期 2007.12.07
申请人 尼康股份有限公司 发明人 荒井大
分类号 G03F7/20(2006.01);H01L21/027(2006.01) 主分类号 G03F7/20(2006.01)
代理机构 代理人 桂齐恒;阎启泰
主权项
地址 日本