一种FPGA内嵌双端口存储器的测试方法

摘要

一种FPGA内嵌双端口存储器的测试方法，将FPGA中的内嵌双端口存储器全部配置为可选工作模式中的同一种，将同一类端口的输入并行连接到一起作为公共输入端；测试时，先采用March C算法轮流测试两类端口，然后对两类端口同时施加组合向量，进行两端口的关联性故障测试，判断存储器输出的正确性。本发明有效地完成了FPGA内嵌双端口存储器的测试，测试覆盖率达到100％，且合理利用了FPGA中空闲的资源作为检验逻辑，简化了调试过程，减少了输入输出端口，大大提高了测试效率。

主权项

1、一种FPGA内嵌双端口存储器的测试方法，其特征在于步骤如下：(1)对FPGA内嵌的各双端口存储器的两个存储端口进行编号，分别为端口A(201)和端口B(202)；(2)将各内嵌双端口存储器端口A(201)的输入地址端A(203)、输入数据端A(204)、端口使能端A(205)、读写使能端A(206)、复位控制端A(207)、时钟输入端A(208)分别并联在一起作为公共输入端A(301)，将各内嵌双端口存储器端口A(201)的输出端(215)按位分别并联在一起作为并行输出端A(305)；将各内嵌双端口存储器端口B(202)的输入地址端B(209)、输入数据端B(210)、端口使能端B(211)、读写使能端B(212)、复位控制端B(213)、时钟输入端B(214)分别并联在一起作为公共输入端B(302)，将各内嵌双端口存储器端口B(202)的输出端(216)按位分别并联在一起作为并行输出端B(306)；(3)将各内嵌双端口存储器配置为相同的工作模式；(4)将各内嵌双端口存储器的端口A(201)设为有效，端口B(202)设为无效，通过公共输入端A(301)对并联的各存储器施加March C算法测试向量进行故障测试；(5)将各内嵌双端口存储器的端口B(202)设为有效，端口A(201)设为无效，通过公共输入端B(302)对并联的各存储器施加March C算法测试向量进行故障测试；(6)将各内嵌双端口存储器的端口A(201)和端口B(202)同时设为有效，通过公共输入端A(301)和公共输入端B(302)对并联的各存储器同时施加组合向量进行两端口的关联性故障测试；(7)将各内嵌双端口存储器设置为相同的其它工作模式，重复步骤(4)～(6)进行测试。