测试装置以及电子元件

摘要

本发明提供一种测试待测元件的测试装置。此测试装置可以(i)从主测试指令序列中顺次读取并执行指令，且输出(Ⅰ)跟所执行的指令有关的测试图型以及(Ⅱ)指示测试图型之输出时序之组合的时序集资讯，(ii)当执行次常式呼叫指令时，则从所执行的次常式呼叫指令所指示的子测试指令序列中顺次读取并执行指令，且输出(1)跟所执行的指令有关的测试图型以及(2)跟次常式呼叫指令有关的测试图型的时序集资讯，或主测试指令序列中的跟位于次常式呼叫指令之前的指令有关的测试图型的时序集资讯。