发明名称 | 测试装置以及电子元件 | ||
摘要 | 一种测试待测元件的测试装置,此测试装置包括:时序资料输出部件,输出时序资料以界定用来改动提供给待测元件的测试讯号的时序与用来撷取待测元件所输出之输出讯号的时序至少其中之一;可变延迟电路,将测试装置的参考时脉脉冲延迟指定的延迟资料所对应的延迟量,以产生具有至少一个时序所对应之转换点的时序讯号;以及范围改动部件,用来改动时序资料变化一个单元时延迟资料的变化量,以回应于设定范围的变化,其中设定范围中设定了至少一个时序。 | ||
申请公布号 | TW200839273 | 申请公布日期 | 2008.10.01 |
申请号 | TW097109478 | 申请日期 | 2008.03.18 |
申请人 | 爱德万测试股份有限公司 | 发明人 | 碁石优 |
分类号 | G01R31/317(2006.01);G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | G01R31/317(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |