发明名称 具有光学膜之片状制品之缺陷检查装置、其检查资料处理装置、其切断装置及其制造系统
摘要 本发明之目的在于藉由利用各使用者之判断条件,来提高良率、降低制造成本,并大幅改善生产性。本发明之缺陷检查装置10,其特征为:其系检查至少具有光学膜之片状制品的缺陷者,该光学膜为光学显示装置之部件;该缺陷检查装置具备:缺陷检测机构,其系于构成片状制品之单层体及/或叠层体未设有片状制品表面保护层之状态下,检测该单层体及/或叠层体之缺陷;及缺陷资讯制作机构,其系制作缺陷资讯,即与由缺陷检测机构所检测到之缺陷相关之资讯;缺陷资讯系为了制造分片之片状制品而利用。
申请公布号 TW200839228 申请公布日期 2008.10.01
申请号 TW096136679 申请日期 2007.09.29
申请人 日东电工股份有限公司 发明人 大桥宏通
分类号 G01N21/958(2006.01);B26D1/01(2006.01);G06F17/10(2006.01) 主分类号 G01N21/958(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本