发明名称 |
一种形成极薄功率装置芯片的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种制造减薄的半导体装置的方法。从具有预制的前侧装置的晶圆开始,该方法包括:从晶圆背侧,仅减薄晶圆的区域,制成一个减薄区域,同时在晶圆外围保留原始晶圆厚度,用作结构加强;在晶圆背侧形成电阻连接;分离并收集预制装置。该方法进一步包括:把晶圆背侧临时粘结到单侧分割带上,并通过分割框架进行支撑;采用一个背衬金属板,以匹配减薄的晶圆区域;将分割带夹在晶圆和背衬金属板之间,然后下压分割带以粘结晶圆;采用一个台阶外形体来支撑晶圆背侧,在一个分割操作中,将预制装置之间分离开并从晶圆外围分离出预制装置,分割深度略大于晶圆区域;然后拾取并收集分离出的减薄半导体装置。 |
申请公布号 |
CN101276740A |
申请公布日期 |
2008.10.01 |
申请号 |
CN200810087020.1 |
申请日期 |
2008.03.28 |
申请人 |
万国半导体股份有限公司 |
发明人 |
冯涛;弗兰克斯·赫尔伯特;孙明;何约瑟 |
分类号 |
H01L21/00(2006.01);H01L21/78(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/00(2006.01) |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 |
代理人 |
王敏杰 |
主权项 |
1、一种形成极薄装置芯片的方法,其特征在于,包含以下步骤:步骤a:提供一个具有原始厚度的半导体晶圆,所述的晶圆具有一组位于其前侧面的预制装置;步骤b:从晶圆背侧,仅减薄晶圆的中央区域,为预制装置提供相应的极薄区域,同时保留具有原始厚度的晶圆外围区域,作为结构强度,防止后续操作中的破损;步骤c:在晶圆背侧形成电阻连接;步骤d:从晶圆上,分离并收集所述的每一组预制装置,形成极薄芯片。 |
地址 |
百慕大哈密尔敦维多利亚街22号佳能院 |