发明名称 |
用于自动自校准占空比电路以最大化芯片性能的设备和方法 |
摘要 |
提供了用于自动校准占空比电路以实现最大性能的设备和方法。提供了对于每个芯片自动校准占空比校正(DCC)电路设置的芯片级内建电路。这个芯片级内建电路包括时钟生成宏单元、简单的占空比校正(DCC)电路、阵列切片和内建自测单元、以及DCC电路控制器。阵列的内建自测的结果,即合格还是失败,被提供给DCC电路控制器。如果内建自测的结果是合格,则当前DCC电路控制器的DCC控制比特设置值被设置为用于芯片的设置值。如果来自内建自测的结果是失败,则DCC电路控制器的DCC控制比特设置值被递增到下一个设置值,并再次执行自测。 |
申请公布号 |
CN101278481A |
申请公布日期 |
2008.10.01 |
申请号 |
CN200680036736.8 |
申请日期 |
2006.09.26 |
申请人 |
国际商业机器公司 |
发明人 |
E·海鲁;D·W·伯伊尔斯特勒;齐洁明 |
分类号 |
H03K5/156(2006.01) |
主分类号 |
H03K5/156(2006.01) |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
赵冰 |
主权项 |
1.一种设备,包括:占空比校正(DCC)电路;耦合到DCC电路的DCC电路控制器;耦合到DCC电路的阵列;以及耦合到所述阵列和所述DCC电路控制器的内建自测电路,其中内建自测电路通过使用DCC电路的当前设置值对该阵列执行自测,DCC电路控制器响应于来自内建自测电路的表示阵列故障的结果将DCC电路的设置值递增到下一个递增的设置值,并且其中DCC电路控制器响应于来自内建自测电路的表示该阵列合格的结果将DCC电路的当前设置值设置为用于芯片的DCC设置值。 |
地址 |
美国纽约 |