| 发明名称 | 测试液晶显示器的方法 | ||
| 摘要 | 一种液晶显示器的测试方法，其包含形成多个芯片放置区于一玻璃基板上，该多个芯片放置区包含多个数据连接端。于相邻二芯片放置区之间形成多条信号导线，该多条信号导线是连接于该相邻二芯片放置区的该多个数据连接端。于该多个芯片放置区的每一芯片放置区之中形成测量线路，该测量线路是连接该多个数据连接端的预设数目的数据连接端。测量该多个芯片放置区的二芯片放置区的测量线路，以获得电性参数值。 | ||
| 申请公布号 | CN100422828C | 申请公布日期 | 2008.10.01 |
| 申请号 | CN200610121904.5 | 申请日期 | 2006.08.29 |
| 申请人 | 友达光电股份有限公司 | 发明人 | 许胜凯 |
| 分类号 | G02F1/1345(2006.01);G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | G02F1/1345(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 黄小临;王志森 |
| 主权项 | 1. 一种液晶显示器的测试方法，其包含：(a)形成多个芯片放置区于一玻璃基板上，该多个芯片放置区包含多个数据连接端；(b)于相邻二芯片放置区之间形成多条信号导线，该多条信号导线是连接于该相邻二芯片放置区的该多个数据连接端；(c)于该多个芯片放置区的每一芯片放置区之中形成第一测量线路，该第一测量线路是连接该多个数据连接端的第一预设数目的数据连接端；(d)测量该多个芯片放置区的任意二芯片放置区的第一测量线路，以获得电性参数值，以及(e)若该电性参数值符合默认值，切断每一芯片放置区的该第一测量线路与该多个数据连接端的连接。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹市 | ||