发明名称 |
一种对触摸屏进行检测的方法及装置 |
摘要 |
本发明公开了一种对触摸屏进行检测的方法及装置,用以检测4线制电阻式触摸屏上的两个触摸点的运动趋势。本发明提供的一种对触摸屏进行检测的方法包括:对触摸屏上的触摸点进行定位,得到所述触摸点的第一坐标轴位置信息和第二坐标轴位置信息;根据所述第一坐标轴位置信息和所述第二坐标轴位置信息,计算得到由于所述触摸点对所述触摸屏的触摸所产生的接触电阻的第一计算值以及第二计算值;根据所述第一计算值与所述第二计算值的差值,确定所述触摸点在第一坐标轴方向或者第二坐标轴方向上的运动趋势信息。通过本发明提供的技术方案,实现了对4线制电阻式触摸屏上的两个触摸点的运动趋势的检测,从而可以丰富用户体验,简化用户操作。 |
申请公布号 |
CN101271374A |
申请公布日期 |
2008.09.24 |
申请号 |
CN200810111920.5 |
申请日期 |
2008.05.19 |
申请人 |
北京中星微电子有限公司 |
发明人 |
谢律;由海 |
分类号 |
G06F3/045(2006.01) |
主分类号 |
G06F3/045(2006.01) |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 |
代理人 |
黄志华 |
主权项 |
1、一种对触摸屏进行检测的方法,其特征在于,该方法包括:对触摸屏上的触摸点进行定位,得到所述触摸点的第一坐标轴位置信息和第二坐标轴位置信息;根据所述第一坐标轴位置信息和所述第二坐标轴位置信息,计算得到由于所述触摸点对所述触摸屏的触摸所产生的接触电阻的第一计算值以及第二计算值;根据所述第一计算值与所述第二计算值的差值,确定所述触摸点在第一坐标轴方向或者第二坐标轴方向上的运动趋势信息。 |
地址 |
100083北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层 |