发明名称 |
一种模拟开关芯片设计方法及芯片装置 |
摘要 |
本发明提供一种模拟开关芯片设计方法,通过额外开关模块,由时钟电路控制其时序,控制标准CMOS工艺模拟开关电路中主开关MOS的衬偏消除电路的工作。本发明还提供一种芯片装置,包括一个标准CMOS工艺模拟开关电路,一个衬偏消除电路,一个额外开关模块,一个时钟电路;所述衬偏消除电路连接主开关MOS衬底,所述额外开关模块包括的次开关分别与衬偏消除电路以及电源电压连接,所述时钟电路提供芯片装置控制时序。本发明所述模拟开关芯片在保证了消除衬偏效应提高导通阻抗性能的同时还提高了模拟开关的带宽、关断隔离以及电荷注入性能。 |
申请公布号 |
CN101272138A |
申请公布日期 |
2008.09.24 |
申请号 |
CN200810099500.X |
申请日期 |
2008.05.16 |
申请人 |
方泰开曼公司 |
发明人 |
刘晓云;林秀龙;何金国 |
分类号 |
H03K17/687(2006.01);H03K17/14(2006.01) |
主分类号 |
H03K17/687(2006.01) |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 |
代理人 |
王洁 |
主权项 |
1、一种模拟开关芯片设计方法,其特征在于采用额外开关模块,由时钟电路控制其时序,控制标准CMOS工艺模拟开关电路中与主开关MOS衬底连接的衬偏消除电路的工作。 |
地址 |
开曼群岛大开曼岛乔治市南教堂街阿格兰大厦 |