测定铁电元件引致的耗损的方法

摘要

本发明公开了一种用于测定由铁电元件引致的损耗的方法，其包括：制作一个包括有铁电元件的电路；测量综合损耗，所述综合损耗包括由所述铁电元件引致的插入损耗以及由其它损耗来源引致的插入损耗分量；测定由其它损耗来源引致的插入损耗分量；以及从测量得到的综合损耗中去除由其它损耗来源引致的插入损耗分量，以确定由所述铁电元件引致的损耗。所述铁电元件可以是集成在谐振电路中的电容器。所述测定方法消除其它来源的损耗，从而分离出由铁电材料引致的损耗，并且证实这种损耗是很低的。利用这种测试方法，可以成功地对铁电膜材料进行研究，以在损耗、可调谐性以及其它参数之间寻求理想的折衷。

主权项

1. 一种用于测定由铁电元件引致的损耗的方法，其包括：制作一个包括有铁电元件的电路；测量综合损耗，所述综合损耗包括由所述铁电元件引致的插入损耗以及由其它损耗来源引致的插入损耗分量；测定由其它损耗来源引致的插入损耗分量；以及从测量得到的综合损耗中去除由其它损耗来源引致的插入损耗分量，以确定由所述铁电元件引致的损耗。