发明名称 |
边界扫描控制器、半导体装置、半导体装置的半导体电路芯片识别方法及其控制方法 |
摘要 |
本发明的目的在于提供一种边界扫描控制器,其能进行边界扫描,而且能够将同一类型的半导体电路芯片积层起来构成半导体装置。通过比较单元(88)将存储单元(85)存储的识别数据和固定数据保持单元(87)保持的固定数据进行比较,当这些识别数据和固定数据一致时,能从数据导出部(89)输出与输出部(86)输出的数据相同的数据。在边界扫描测试中,将设置在半导体电路芯片上的边界扫描控制器(80)的数据导出部(89)连接在同一总线上。当识别数据和固定数据不一致时,数据导出部(89)可以处于实质上不与总线连接的状态。由此,能通过将设置有边界扫描控制器(80)的同一类型的半导体电路芯片进行积层,构成半导体装置。 |
申请公布号 |
CN100419447C |
申请公布日期 |
2008.09.17 |
申请号 |
CN200480004089.3 |
申请日期 |
2004.02.10 |
申请人 |
夏普株式会社 |
发明人 |
佐藤知稔 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
浦柏明;叶恺东 |
主权项 |
1. 一种边界扫描控制器,其被设置在半导体电路芯片上,并控制移位寄存器电路,该移位寄存器由分别设置在外部信号输入端子和内部逻辑电路的输入端子之间、以及外部信号输出端子和内部逻辑电路的输出端子之间的边界扫描单元串联连接构成,上述边界扫描控制器的特征在于,包括:给出输入输出时序的时钟输入部;给出预定的动作命令的测试模式输入部;输入半导体电路芯片的识别数据以及测试数据的数据输入部;存储上述识别数据的存储单元;执行上述预定的动作命令,并将识别数据存储在存储单元中,同时执行使用了测试数据的电路测试并得到测试结果数据的控制单元;始终进行输出的、输出由控制单元得到的测试结果数据的数据输出部;保持预定的固定数据的固定数据保持单元;比较上述识别数据和固定数据是否一致,并输出比较结果信息的比较单元;以及根据来自比较单元的比较结果信息,导出与数据输出部输出的测试结果数据对应的数据的数据导出部,其中,当上述存储单元未存储识别数据时,数据导出部输出表示未存储识别数据的数据。 |
地址 |
日本大阪市 |