发明名称 批次检测待测元件之机台及该测试方法
摘要 一种批次检测待测元件之机台及该测试方法,主要是藉由单次检测动作中,同时检测整批复数个待测元件,藉以节省检测过程所耗费时间,提升检测效率;并藉由纪录检测结果,将承载移动装置所承载待测元件承载盘中之不合格元件,随后由捡取装置移除,并由预先准备之合格元件补满空缺,以迅速完成品质检验流程。
申请公布号 TW200837364 申请公布日期 2008.09.16
申请号 TW096107571 申请日期 2007.03.05
申请人 致茂电子股份有限公司 发明人 范光和
分类号 G01R31/01(2006.01) 主分类号 G01R31/01(2006.01)
代理机构 代理人
主权项
地址 桃园县龟山乡华亚科技园区华亚一路66号