发明名称 | 批次检测待测元件之机台及该测试方法 | ||
摘要 | 一种批次检测待测元件之机台及该测试方法,主要是藉由单次检测动作中,同时检测整批复数个待测元件,藉以节省检测过程所耗费时间,提升检测效率;并藉由纪录检测结果,将承载移动装置所承载待测元件承载盘中之不合格元件,随后由捡取装置移除,并由预先准备之合格元件补满空缺,以迅速完成品质检验流程。 | ||
申请公布号 | TW200837364 | 申请公布日期 | 2008.09.16 |
申请号 | TW096107571 | 申请日期 | 2007.03.05 |
申请人 | 致茂电子股份有限公司 | 发明人 | 范光和 |
分类号 | G01R31/01(2006.01) | 主分类号 | G01R31/01(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡华亚科技园区华亚一路66号 |