发明名称 | 绝缘膜的形成方法及半导体装置的制造方法 | ||
摘要 | 绝缘膜的形成方法是包含:准备一表面露出矽的被处理基板之工程;对表面的矽实施氧化处理,在矽表面形成氧化矽膜的薄膜之工程;对氧化矽膜及其下层的矽实施第1氮化处理,形成氮氧化矽膜之工程;及对氮氧化矽膜在N#sB!2#eB!O环境下实施第1热处理之工程。此方法可更包含:第1热处理之后,对氮氧化矽膜实施第2氮化处理,除此以外,可更包含:对第2氮化处理之后的上述氮氧化矽膜实施第2热处理。 | ||
申请公布号 | TW200836262 | 申请公布日期 | 2008.09.01 |
申请号 | TW096150550 | 申请日期 | 2007.12.27 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 本多稔;佐藤吉宏;中西敏雄 |
分类号 | H01L21/314(2006.01) | 主分类号 | H01L21/314(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 林志刚 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |