发明名称 绝缘膜的形成方法及半导体装置的制造方法
摘要 绝缘膜的形成方法是包含:准备一表面露出矽的被处理基板之工程;对表面的矽实施氧化处理,在矽表面形成氧化矽膜的薄膜之工程;对氧化矽膜及其下层的矽实施第1氮化处理,形成氮氧化矽膜之工程;及对氮氧化矽膜在N#sB!2#eB!O环境下实施第1热处理之工程。此方法可更包含:第1热处理之后,对氮氧化矽膜实施第2氮化处理,除此以外,可更包含:对第2氮化处理之后的上述氮氧化矽膜实施第2热处理。
申请公布号 TW200836262 申请公布日期 2008.09.01
申请号 TW096150550 申请日期 2007.12.27
申请人 东京威力科创股份有限公司 发明人 本多稔;佐藤吉宏;中西敏雄
分类号 H01L21/314(2006.01) 主分类号 H01L21/314(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本