发明名称 平面型半导体装置及其制造方法
摘要 一种平面型半导体装置及其制造方法,包含复数个装置隔离区域,定义形成于半导体基板上方之一个主动区域;至少一个漂移区域,形成于半导体基板中;一个阱区域,形成于半导体基板中;一个闸极图案,形成于半导体基板上方以及复数个装置隔离区域之间;一对源极区域以及一个汲极区域,形成于与闸极图案的侧面邻接的半导体基板中;至少一个漂移区域,形成于阱区域中;一个汲极区域,形成于漂移区域中;以及一个矽化物层,形成于源极区域、汲极区域之上方以及部份闸极图案之上方。
申请公布号 TW200818341 申请公布日期 2008.04.16
申请号 TW096137550 申请日期 2007.10.05
申请人 东部高科股份有限公司 发明人 崔容建
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L29/78(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 代理人 许世正
主权项
地址 韩国