发明名称 膜厚计
摘要
申请公布号 TWD124377 申请公布日期 2008.08.21
申请号 TW096304297 申请日期 2007.08.07
申请人 凯特科学研究所股份有限公司 KETT ELECTRIC LABORATORY 日本 发明人 中井隆司
分类号 10-05 主分类号 10-05
代理机构 代理人 洪武雄 台北市中正区博爱路35号9楼;陈昭诚 台北市中正区博爱路35号9楼
主权项
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