零运动接触致动

摘要

本发明提供一种用于测试小电子组件之装置，其包括一用于将间隔之复数个电子组件移动至一测试台之测试板。一滚筒经设计以挤压在该测试板及该电子组件上从而在该测试板及该电子组件移动时施加一在10克至20克之间的第一力，且在该测试板停止且该电子组件在该测试台处对准时施加一大约为50克之第二力。该等施加至该测试板及该电子组件上之力由诸如一流体操作式致动器、例如一气动致动器或一螺线管之施力致动器控制。