发明名称 避免在PECVD制程腔壁上沉积薄膜的设备及方法
摘要 提供处理基材之方法与设备。腔室主体包括腔室底部与具有狭缝阀之侧壁。包括支撑主体之基材支撑件系位于腔室主体中。至少一宽的RF接地片之第一端系耦接于支撑主体而至少一宽的RF接地片之第二端系耦接于腔室底部。至少一延伸杆系沿着支撑主体之周边而配置。该方法包括提供具有狭缝阀与基材支撑件之处理室;提供RF功率给置于基材支撑件上方之分配板;流动气体通过分配板;电浆处理置于基材支撑件上之基材;以及减少邻近狭缝阀处之电浆生成。
申请公布号 TW200834688 申请公布日期 2008.08.16
申请号 TW096148312 申请日期 2007.12.17
申请人 应用材料股份有限公司 发明人 朴范秀;泰内罗宾L;崔寿永;怀特约翰M
分类号 H01L21/30(2006.01);H01L21/67(2006.01) 主分类号 H01L21/30(2006.01)
代理机构 代理人 蔡坤财;李世章
主权项
地址 美国