发明名称 Mechano-chemisches Polierverfahren für GaAs-Wafer
摘要 Ein Verfahren zum Durchführen von mechano-chemischem Polieren, das als ein primärer Poliervorgang für einen GaAs-Wafer dient, unter Verwendung mechano-chemischer Polierlösung, die außer Wasser Dichlorisocyanursäure, Natriumtripolyphosphat, Natriumsulfat, Natriumcarbonat und kolloides Silica als Bestandteile enthält, schließt die folgenden Schritte ein: Anbringen des Wafers an einer mechano-chemischen Poliervorrichtung; Durchführen von Polieren der ersten Stufe, indem der Poliervorrichtung die Polierlösung mit der ersten Zusammensetzung zugeführt wird, in der außer Wasser 20-31 Gew.-% Natriumtripolyphosphat in den Bestandteilen enthalten sind, und anschließend Durchführen von Polieren der zweiten Stufe, indem der Poliervorrichtung die Polierlösung mit einer zweiten Zusammensetzung zugeführt wird, in der außer Wasser 13-19 Gew.-% Natriumtripolyphosphat in den Bestandteilen enthalten sind.
申请公布号 DE102008004441(A1) 申请公布日期 2008.08.14
申请号 DE20081004441 申请日期 2008.01.15
申请人 SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES LTD. 发明人 NAKAYAMA, MASAHIRO;YAMAZAKI, TETSUYA
分类号 H01L21/302;B24B37/00;C09G1/04;H01L21/304 主分类号 H01L21/302
代理机构 代理人
主权项
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