发明名称 High Speed Electrical Probe
摘要 A high speed probe is configured with a diamond-gold plated tip to facilitate high speed test operations. A die is used to adjust the probe tips in a predetermined shape configuration.
申请公布号 US2008186036(A1) 申请公布日期 2008.08.07
申请号 US20070671792 申请日期 2007.02.06
申请人 SHUMAKER BRIAN 发明人 SHUMAKER BRIAN
分类号 G01R1/067 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人
主权项
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