| 发明名称 | 用于调节位置测量仪的光源的方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于调节位置测量仪的光源(1)的装置，它具有下列部分：一个相对于光源可移动的实物量具(2)，多个光电探测器(3；8)，其中至少一个的光电流(I<SUB>0°</SUB>、I<SUB>90°</SUB>、I<SUB>180°</SUB>、I<SUB>270°</SUB>；I<SUB>8</SUB>)可用作形成实际数值(U<SUB>4</SUB>；U<SUB>8</SUB>)的基础。在此这样布置光电探测器(3)，通过至少一部分光电探测器将由实物量具调制的光转换为与位置相关的光电流。此外位置测量仪还包含一个用于产生规定数值(U<SUB>5</SUB>)的设备(5)，和一个比较器(6)，通过该比较器可执行实际数值(U<SUB>4</SUB>；U<SUB>8</SUB>)与规定数值(U<SUB>5</SUB>)之间的比较。通过所述设备可产生基于与位置相关的光电流的规定数值。本发明还涉及一种执行这种调节的方法。 | ||
| 申请公布号 | CN100408978C | 申请公布日期 | 2008.08.06 |
| 申请号 | CN200410068265.1 | 申请日期 | 2004.08.27 |
| 申请人 | 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司 | 发明人 | E·迈尔;J·奥伯豪泽 |
| 分类号 | G01D5/26(2006.01) | 主分类号 | G01D5/26(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 吴立明;张志醒 |
| 主权项 | 1. 用于调节位置测量仪的光源(1)的装置，包含，-一个相对光源(1)可移动的实物量具(2)，-多个光电探测器(3；8)，通过该光电探测器光源(1)发射的光可转换为光电流(I0°、I90°、I180°、I270°)，其中该光电探测器(3；8)中至少一个的光电流(I0°、I90°、I180°、I270°)可作为形成实际数值(U4；U8)的基础，及这样布置光电探测器(3；8)，使通过至少一部分光电探测器(3)可将实物量具(2)调制的光转换为与位置相关的光电流(I0°、I90°、I180°、I270°)，-一种用于产生规定数值(U5)的设备(5)，及-一个比较器(6)，通过该比较器可执行实际数值(U4；U8)与规定数值(U5)之间的比较，用于产生调节光源(1)的强度的调差，其特征在于，通过设备(5)可产生基于与位置相关的光电流(I0°、I90°、I180°、I270°)规定数值(U5)。 | ||
| 地址 | 联邦德国特劳恩罗伊特 | ||