发明名称 测试连接器
摘要 本发明涉及一种测试连接器,可电性连接晶片模组至印刷电路板,其包括容设有若干导电端子的绝缘基座、组设于绝缘基座上的浮板、可动连接于绝缘基座上且可相对绝缘基座于断开位置和导通位置之间转换的盖体、置于绝缘基座和盖体之间且可驱动盖体自断开位置向导通位置回复的弹性装置,以及伴随盖体于断开位置和导通位置之间转换的锁固件,其中,锁固件朝向盖体内侧设有至少两个枢轴,盖体内侧相应设有若干供枢轴移动的凹槽。锁固件藉由其两侧的枢轴在盖体内侧的凹槽中移动从而实现置于浮板上的晶片模组的导通与断开。这种结构的测试连接器零件少,构造简单,且能实现晶片模组与印刷电路板之间电性连接的稳定性。
申请公布号 CN101237105A 申请公布日期 2008.08.06
申请号 CN200710019697.7 申请日期 2007.02.02
申请人 富士康(昆山)电脑接插件有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 发明人 陈铭佑;许修源
分类号 H01R33/74(2006.01);H01R12/22(2006.01);H01R13/629(2006.01);H01R13/639(2006.01);G01R1/067(2006.01) 主分类号 H01R33/74(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1. 一种测试连接器,可电性连接晶片模组至印刷电路板,其包括容设有若干导电端子的绝缘基座、组设于绝缘基座上的浮板、可动连接于绝缘基座上且可相对绝缘基座于断开位置和导通位置之间转换的盖体、置于绝缘基座和盖体之间且可驱动盖体自断开位置向导通位置回复的弹性装置,以及伴随盖体于断开位置和导通位置之间转换的锁固件,其特征在于:所述锁固件朝向盖体内侧设有至少两个枢轴,盖体内侧相应设有若干供枢轴移动的凹槽。
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