发明名称 一种阻抗成像方法及装置
摘要 一种阻抗成像方法,利用激励线圈产生交变场,根据电磁感应原理在成像目标中产生感应电流,影响激励交变场的分布,采用磁共振成像技术测量成像目标中的磁场分布。采用上述方法的成像装置包括激励线圈、磁共振成像磁体、射频发射线圈及梯度线圈、磁共振信号接受线圈、磁共振成像系统、激励电流源和计算机。激励线圈为一对亥姆霍兹线圈,安装在开放式磁共振成像系统射频线圈的上下极板处。本发明避免了电极的接触阻抗及摆放位置对成像目标阻抗分布图像的影响,克服了类似绝缘体的组织产生的注入电流难以穿过的缺点,削弱了由场分布求解阻抗分布这一逆问题的病态性以及解决成像分辨率的问题,并可克服接受线圈对成像目标内部反应不敏感的缺陷。
申请公布号 CN100409022C 申请公布日期 2008.08.06
申请号 CN200310112963.2 申请日期 2003.12.29
申请人 中国科学院电工研究所 发明人 王慧贤;刘国强;杨文晖
分类号 G01R33/20(2006.01);A61B5/055(2006.01) 主分类号 G01R33/20(2006.01)
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人 关玲
主权项 1. 一种阻抗成像方法,其特征在于首先用电磁辐射测量仪测量得到感应激励线圈在无成像目标时成像区域的磁场及电场分布,作为系统参数存储;在成像过程中,磁共振成像系统的成像序列通过磁共振谱仪系统控制感应激励线圈的电流通断,在进行磁共振成像的相位编码时施加激励磁场,由于电磁感应现象及成像目标中各部分的电磁特性的差异,成像目标中各部分的磁场便产生了差异,这些差异通过相位编码反映在磁共振图像的相位上,与不施加激励磁场时获得的磁共振信号比较,得到两种情况下磁共振信号的相位差异,根据这两种情况下磁共振信号的相位差异,由方程ΔΦ=γBTC可以得到在激励磁场作用下成像目标中的磁场分布H(r),此处TC的含义为激励磁场施加的时间,进而重建成像目标的阻抗分布图像。
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