发明名称 于非挥发记忆体系统中损坏区块隔离
摘要 本发明揭示一种提供改进识别及隔离非挥发记忆体器件中损坏区块之方法及装置,该等非挥发记忆体器件具有非挥发储存元件之复数个使用者可存取区块,其中每一区块亦具有一相关的损坏区块锁存器。该方法提供用于感测每一损坏区块锁存器以判断该损坏区块锁存器是否因损坏而设定,并将对应于每一设定锁存器的位址资料暂时储存在晶片记忆体。该方法进一步包括取回位址资料,并基于该位址资料而使损坏区块失效。一非挥发记忆体器件亦描述具有一控制器,其感测该等损坏区块锁存器,储存具有一设定锁存器之每一区块的位址资料,且随后取回储存的位址资料,以基于该位址资料设定该等损坏区块锁存器。
申请公布号 TW200832426 申请公布日期 2008.08.01
申请号 TW096133311 申请日期 2007.09.06
申请人 桑迪士克股份有限公司 发明人 洛克 杜;蔡万刚
分类号 G11C29/44(2006.01) 主分类号 G11C29/44(2006.01)
代理机构 代理人 黄章典;楼颖智
主权项
地址 美国