发明名称 Verbesserte integrierte Halbleiterstruktur für Zuverlässigkeitsprüfungen von Dielektrika
摘要
申请公布号 DE10314503(B4) 申请公布日期 2008.07.31
申请号 DE20031014503 申请日期 2003.03.31
申请人 ADVANCED MICRO DEVICES INC. 发明人 WIECZOREK, KARSTEN;GEILENKEUSER, ROLF;WEIDNER, JOERG-OLIVER
分类号 H01L23/544;H01L21/66 主分类号 H01L23/544
代理机构 代理人
主权项
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