发明名称 |
一种场效应晶体管多层场板器件及其制作方法 |
摘要 |
本发明涉及半导体材料中微波功率器件技术领域,公开了一种制作铝镓氮/氮化镓高电子迁移率场效应晶体管(AlGaN/GaN HEMT)多层场板器件的方法,该方法基于常规的AlGaN/GaN HEMT器件制作工艺,在形成栅金属接触后,先制作栅连接场板,再制作源连接场板,形成AlGaN/GaNHEMT多层场板器件。本发明同时公开了一种AlGaN/GaN HEMT多层场板器件。利用本发明,大大提高了AlGaN/GaN HEMT器件的击穿特性,并有效地抑制了AlGaN/GaN HEMT器件的电流崩塌现象。 |
申请公布号 |
CN101232045A |
申请公布日期 |
2008.07.30 |
申请号 |
CN200710062987.X |
申请日期 |
2007.01.24 |
申请人 |
中国科学院微电子研究所 |
发明人 |
刘果果;刘新宇;郑英奎;魏珂 |
分类号 |
H01L29/778(2006.01);H01L21/335(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/778(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
周国城 |
主权项 |
1.一种铝镓氮/氮化镓高电子迁移率场效应晶体管多层场板器件,其特征在于,该器件包括栅极,位于栅极两侧的源极和漏极;其中,栅极、源极和漏极位于衬底材料顶层铝镓氮AlGaN外延层上,源极与AlGaN外延层以及漏极与AlGaN外延层之间通过退火合金形成欧姆接触;形成了栅极、源极和漏极的器件表面淀积氮化硅SiN介质膜,在该层介质膜上蒸发栅连接场板的图形;随后在已经形成的器件表面再次淀积SiN介质膜,在该层介质膜上蒸发源连接场板的图形。 |
地址 |
100029北京市朝阳区北土城西路3号 |