发明名称 半导体专用设备晶片抓取装置
摘要 一种半导体专用设备晶片抓取装置,包括晶片抓取板和与之相连的真空系统,其晶片抓取板由抓取面板、主体芯板和密封盖板三层粘接成薄片状整体结构,在主体芯板上开有连通槽,在抓取面板上开有与上述连通槽对应连通的晶片吸附孔,在密封盖板对应于连通槽的位置开有一个真空接口。其晶片抓取板的形状为叉形或爪形,真空接口位于叉柄或爪柄上,其中至少两个晶片吸附孔各位于一个叉齿或爪牙上,至少一个晶片吸附孔位于叉齿或爪牙与叉柄或爪柄的交界部位。该装置对抓取目标物表面平整度的要求不高,降低了制造难度,具有结构简单,应用方便,成本低廉,节省能耗的特点,可广泛应用于半导体专用设备中晶片的抓取转运。
申请公布号 CN101209554A 申请公布日期 2008.07.02
申请号 CN200710203381.3 申请日期 2007.12.25
申请人 中国电子科技集团公司第四十五研究所 发明人 张志军;柳滨
分类号 B25J15/00(2006.01);B25J15/06(2006.01);H01L21/00(2006.01) 主分类号 B25J15/00(2006.01)
代理机构 北京中建联合知识产权代理事务所 代理人 朱丽岩
主权项 1.一种半导体专用设备晶片抓取装置,包括晶片抓取板和与之相连的真空系统,其特征在于:晶片抓取板由抓取面板(1)、主体芯板(2)和密封盖板(3)三层粘接成薄片状整体结构,在主体芯板(2)上开有连通槽(5),在抓取面板(1)上开有与上述连通槽(5)对应连通的晶片吸附孔(4),在密封盖板(3)对应于连通槽(5)的位置开有一个真空接口(6)。
地址 065201河北省三河市燕郊开发区海油大街20号