发明名称 |
集成微传感器的制备方法 |
摘要 |
本发明提供了一种基于SOI技术的集成微传感器的制备方法,属于微机电系统和集成电路技术领域。该方法基于Post-CMOS或Intermediate-CMOS工艺,利用SOI CMOS工艺和SOI微机械加工技术,在SOI硅片上实现微传感器阵列与信号调理等电路的单片集成。本发明工艺简单、加工成本低、体积小、可靠性高,该集成传感器在医学、环境、食品、军事等领域具有广泛的应用前景。 |
申请公布号 |
CN101211861A |
申请公布日期 |
2008.07.02 |
申请号 |
CN200610170724.6 |
申请日期 |
2006.12.26 |
申请人 |
北京大学 |
发明人 |
于晓梅;汤雅权;张海涛;王颖;王玮 |
分类号 |
H01L21/84(2006.01);B81C1/00(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/84(2006.01) |
代理机构 |
北京君尚知识产权代理事务所 |
代理人 |
贾晓玲 |
主权项 |
1.一种集成微传感器的制备方法,包括:(1)在SOI硅片上进行光刻和刻蚀,定义CMOS电路的有源区和传感器的器件区,之后生长场区氧化层,形成硅岛,然后去除SOI硅片上的氮化硅;(2)N-和P-离子注入,调节NMOS和PMOS管的阈值电压,并制备组成惠斯通电桥的力敏电阻;(3)淀积多晶硅并离子注入,定义多晶硅栅、多晶硅引线和多晶硅电阻;(4)对NMOS和PMOS管进行源漏区离子注入和体接触区注入;(5)定义接触孔后淀积金属,干法刻蚀或湿法腐蚀金属,定义电路及传感器的金属引线;(6)光刻并定义形成传感器结构的微槽图形,并利用反应离子刻蚀槽区的钝化层、器件层和埋氧层;(7)各向同性刻蚀微槽内的硅,利用埋氧层停止刻蚀,得到释放的传感器结构。 |
地址 |
100871北京市海淀区颐和园路5号 |