发明名称 | 影像坏点像素即时侦测方法 | ||
摘要 | 一种影像坏点像素即时侦测方法,应用于数位相机中,用以于数位相机取得影像时,对于影像中所存在的坏点像素进行即时侦测,以找出需要修复的像素。透过即时侦测,可以减少以往在数位相机生产线上必须花费在坏点校正程序上的生产人力与工时,也可以减少数位相机储存坏点像素资讯所占用的大量储存空间;更重要的是在侦测过程中,能够因应影像的不同属性而动态调整门槛値来判断坏点像素,能够更准确掌握坏点像素可能发生的情况达到辅助提升影像品质的效果。 | ||
申请公布号 | TW200828982 | 申请公布日期 | 2008.07.01 |
申请号 | TW095148659 | 申请日期 | 2006.12.22 |
申请人 | 华晶科技股份有限公司 | 发明人 | 詹振宏 |
分类号 | H04N17/06(2006.01);H04N5/225(2006.01) | 主分类号 | H04N17/06(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 许世正 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行路10号3楼 |