发明名称 具有X-射线荧光检查功能的X-射线诊断设备
摘要 本发明涉及一种具有X-射线荧光透视检查功能的X-射线诊断设备和X-射线荧光检查法,其中设备包括发生器、检测器、积分器、比较器和控制器。在该设备和方法中,间歇地产生用于X-射线荧光检查的第一X-射线。检测透射过X-射线荧光检查的对象的透射X-射线。在第一X-射线的间歇产生的周期中对获得的X-射线透射数据进行积分并将其与基准值进行比较。在间歇产生的周期中响应积分的X-射线透射数据达到基准值,停止第一X-射线的间歇产生。
申请公布号 CN100396242C 申请公布日期 2008.06.25
申请号 CN03101865.3 申请日期 2003.01.20
申请人 株式会社东芝 发明人 小野正彦
分类号 A61B6/00(2006.01) 主分类号 A61B6/00(2006.01)
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 李德山
主权项 1.一种X-射线荧光检查设备,包括:构造成脉冲地产生用于X-射线荧光检查的X-射线的发生器;构造成检测透射过X-射线荧光检查的对象的X-射线的透射X-射线并输出X-射线透射数据的检测器;构造成在X-射线的产生的周期中对X-射线透射数据进行积分的积分器;构造成将积分的X-射线透射数据与基准值进行比较的比较器;构造成对对象进行连续的或更高脉冲速率的X-射线荧光检查的荧光检查单元,由此确定用于所述X-射线的脉冲检查期间的电压和电流;和构造成在脉冲产生周期中响应达到基准值的积分的X-射线透射数据以停止发生器的控制器,用于在确定X-射线的脉冲检查期间的电压和电流之后,确定脉冲的宽度。
地址 日本东京都
您可能感兴趣的专利