| 主权项 |
1.一种于单次通过用来实作二维影像转换之电子 系统,该转换系将具有输入像素座标之一输入影像 ,转换成为具有输出像素座标之一输出影像,该系 统包含: (a)一几何输入介面,其系用来获得定义该转换之几 何参数,及该几何输入介面包括描述下列之透镜参 数:显示光学元件、投射角度、平面萤幕及曲面萤 幕之显示面板几何、及使用者特殊参数; (b)一耦接至该几何输入介面之网格转换产生器,其 系用来产生一网格资料转换,将该等输出像素座标 映射至输入像素座标; (c)一耦接至该网格转换产生器之补片几何产生器, 用来根据潜在几何,将该输出像素座标空间划分成 为多个对应补片,各个补片具有一相关联之网格资 料集合,该补片几何产生器决定该输出空间补片之 边界; (d)一耦接至该补片几何产生器之表面函数概算器, 来参数化各个补片之网格资料集合成为以表面系 数表示之一表面函数;以及 (e)一耦接至该表面函数概算器来储存该等表面系 数之输出介面。 2.如申请专利范围第1项之系统,进一步包括一错误 分析阶段,该错误分析阶段系耦接至该表面函数概 算器、该补片几何产生器、及该网格转换产生器, 该错误分析阶段系适合用来执行一网眼错误分析 来判定于一选定座标点,该表面函数集合之一之评 估与得自网格资料描述之相对应座标点间之差是 否属于预设错误容差范围内;若否,则进送该错误 分析结果至该补片几何产生器,来进一步再划分该 等补片获得更精细的解析度。 3.如申请专利范围第1项之系统,进一步包括一范围 框产生器,其适合产生一范围框环绕该影像之活性 区,来减少与不活性区相关联的处理。 4.如申请专利范围第1项之系统,其中该系统系适合 决定经转换之座标是否位于输入像素座标内部,以 及若否,则阻止输出像素资料之进一步处理。 5.如申请专利范围第1项之系统,其中该表面函数概 算器适合透过多项式表示该表面函数。 6.如申请专利范围第5项之系统,其中该多项式为三 次多项式。 7.如申请专利范围第6项之系统,其中该表面函数概 算器适合使用张量乘积双立方样条,透过最小平方 方法来匹配该多项式。 8.如申请专利范围第6项之系统,其中该表面函数概 算器适合经由计算不同次幂之系数,计算多项式来 减少乘法运算。 9.如申请专利范围第1项之系统,其中该补片划分系 透过梯度搜寻而最佳化。 10.如申请专利范围第1项之系统,其中该补片划分 系透过随机搜寻而最佳化。 11.如申请专利范围第1项之系统,其中该补片划分 系透过随机搜寻与梯度搜寻之组合而最佳化;以及 其中该随机搜寻首先找出最佳几何,以及然后该梯 度搜寻微调该最佳几何。 12.如申请专利范围第1项之系统,进一步包括一解 析度改变阶段,改变预定表面系数来配合一解析度 变化而未重复该影像转换。 13.如申请专利范围第1项之系统,进一步包括一变 焦阶段来改变该经测定之表面系数来配合一变焦 操作而未重复该影像转换。 14.如申请专利范围第5项之系统,其中表面匹配系 经由以x之多项式处理该表面,x多项式之系数为y之 多项式来进行。 15.如申请专利范围第1项之系统,其适合分开匹配 个别补片。 16.如申请专利范围第1项之系统,其中该表面函数 概算器适合对各个补片重新定义位于补片上之座 标原点,来减少用于匹配座标之数目范围。 17.如申请专利范围第1项之系统,其适合校正光学 之非线性包括插针垫透镜失真及桶状透镜失真。 18.如申请专利范围第1项之系统,其适合校正投射 失真包括基础失真。 19.如申请专利范围第1项之系统,其适合投射至一 弯曲表面上。 20.如申请专利范围第1项之系统,其适合使用广角 透镜用于全景视觉系统。 21.如申请专利范围第1项之系统,其适合校正插针 垫与桶状透镜失真、弯曲表面失真、投射失真、 及全景视觉失真中之至少一种失真。 22.如申请专利范围第1项之系统,其适合包括将影 像表面分层来含括深度资讯,其被再度取样作为影 像亮度资料及影像彩度资料;以及其中深度资讯系 用于分层程序来决定各个像素之可适性或封阻性 。 23.一种表示欲于单次通过执行之二维影像转换之 方法,该转换系将具有输入像素座标之一输入影像 ,转换成为具有输出像素座标之一输出影像,该方 法包含下列步骤: (a)获得定义该转换之几何参数,及该几何输入介面 包括描述下列之透镜参数:显示光学元件、投射角 度、平面萤幕及曲面萤幕之显示面板几何、及使 用者特殊参数; (b)基于该几何输入参数产生一网格资料转换,来将 该等输出像素座标映射至输入像素座标; (c)根据潜在几何,将该输出像素座标空间划分成为 多个对应补片,各个补片具有一相关联之网格资料 集合并且决定该等输出空间补片之边界; (d)参数化各个补片之网格资料集合成为以表面系 数表示之一表面函数;以及 (e)储存该等表面系数。 24.如申请专利范围第23项之方法,进一步执行一网 眼错误分析来判定于选定座标点之表面函数集合 之一的分析与得自该网格资料描述之相对应座标 点间之差是否系于于预设之错误容差范围内;以及 若否则进一步再划分该等补片获得更精细解析度 。 25.如申请专利范围第23项之方法,进一步产生一环 绕该影像之活性区之范围框来减少与非活性区相 关联之处理。 26.如申请专利范围第23项之方法,进一步测定经转 换之座标是否于输入像素座标以内;以及若否,则 阻止该输出像素之资料之进一步处理。 27.如申请专利范围第23项之方法,其中该等表面函 数系透过多项式表示。 28.如申请专利范围第27项之方法,其中该等多项式 为三次多项式。 29.如申请专利范围第28项之方法,其中该等多项式 系使用张量乘积双立方样条,透过最小平方方法匹 配。 30.如申请专利范围第28项之方法,其中该等多项式 系经由求出不同次幂系数运算来减少乘法运算。 31.如申请专利范围第23项之方法,其中该补片划分 系透过梯度搜寻而最佳化。 32.如申请专利范围第23项之方法,其中该补片划分 系透过随机搜寻而最佳化。 33.如申请专利范围第23项之方法,其中该补片划分 系透过随机搜寻与梯度搜寻之组合而最佳化;以及 其中该随机搜寻首先找出最佳几何,以及然后该梯 度搜寻微调该最佳几何。 34.如申请专利范围第23项之方法,进一步改变经测 定表面系数来配合一解析度变化而未重复该影像 转换。 35.如申请专利范围第23项之方法,进一步改变该经 测定之表面系数来配合一变焦操作而未重复该影 像转换。 36.如申请专利范围第27项之方法,其中表面匹配系 经由以x之多项式处理该表面,x多项式之系数为y之 多项式来进行,来进一步加快处理速度。 37.如申请专利范围第23项之方法,其中个别补片系 分开匹配。 38.如申请专利范围第23项之方法,进一步对各个补 片重新定义座标原点来位于补片上,来减少用于匹 配座标之数目范围俾便达成有效硬体实作。 39.如申请专利范围第23项之方法,其应用于校正光 学之非线性包括插针垫透镜失真及桶状透镜失真 。 40.如申请专利范围第23项之方法,其应用于校正投 射失真包括基础失真。 41.如申请专利范围第23项之方法,其应用于投射至 一弯曲表面上。 42.如申请专利范围第23项之方法,其应用于使用广 角透镜用于全景视觉系统。 43.如申请专利范围第23项之方法,其应用于校正插 针垫与桶状透镜失真、弯曲表面失真、投射失真 、及全景视觉失真中之至少一种失真。 44.如申请专利范围第23项之方法,进一步将影像表 面分层来含括深度资讯,其被再度取样作为影像亮 度资料及影像彩度资料;以及其中深度资讯系用于 分层程序来决定各个像素之可适性或封阻性。 图式简单说明: 第1图为根据本发明之较佳具体例建立之卷曲系统 之方块图; 第2图为通用2D转换之代表图,此处反映射应用于输 出影像像素(P)来判定于输入影像之相对应像素(P') 之位置; 第3图为示意图,显示于第1图之系统,如何经由延长 补片边界形成补片列、补片行或补片阵列,让不规 则与规则之补片划分变规则之实例; 第4A图及第4B图为用于第1图系统内部之非连续2D表 面(第4A图)及连续2D表面(第4B图)之代表图; 第5图为示意图,显示第1图所示系统如何用来达成 解析度之变化,此处输入影像及输出影像经缩放; 第6图为示意图,显示第1图所示系统如何用来达成 变焦映射;以及 第7图为本发明之转换方法之概略流程表示法。 |
