发明名称 METHOD OF HIGH VOLTAGE TRIM TEST AND FLASH MEMORY DEVICE USING THE METHOD
摘要
申请公布号 KR100839489(B1) 申请公布日期 2008.06.19
申请号 KR20060116022 申请日期 2006.11.22
申请人 发明人
分类号 G11C16/34;G11C16/10;G11C29/00 主分类号 G11C16/34
代理机构 代理人
主权项
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