| 发明名称 | 提高SOC芯片测试效率的方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种提高SOC芯片测试效率的方法，对SOC进行量产测试时，把多个项目的测试结果存储在芯片中，在一定的时间内输出最终测试结果。本发明能够直观的显示出测试的结果，节省测试时间。输出的测试结果，不必采用复杂的测试向量进行比对，减少了数据处理的时间，开发的测试程序也不复杂，解决了目前现有技术中对SOC芯片量产测试所存在的问题。 | ||
| 申请公布号 | CN101196553A | 申请公布日期 | 2008.06.11 |
| 申请号 | CN200610119034.8 | 申请日期 | 2006.12.04 |
| 申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 谢晋春;陈凯华;陈婷;辛吉升;桑浚之 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01);G01R31/317(2006.01);G01R31/3185(2006.01);G06F17/50(2006.01) | 主分类号 | G01R31/28(2006.01) |
| 代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人 | 顾继光 |
| 主权项 | 1.一种提高SOC芯片测试效率的方法，其特征在于：对SOC进行量产测试时，把多个项目的测试结果存储在芯片中，在一定的时间内输出最终测试结果。 | ||
| 地址 | 201206上海市浦东新区川桥路1188号 | ||