非接触式应用芯片的多通道测试仪

摘要

本发明公开了一种非接触式应用芯片的多通道测试仪，它是由主板控制模块通过通用接口，分别协调各功能模块的工作，以同时对多个非接触式芯片进行测试。射频调制模块提供两路独立的射频调制作为被测芯片的射频输入，接收模块分别接收并处理由各芯片返回的信号，输出给主板控制模块。本发明在满足芯片基本测试功能的同时，能提高多通道测试的一致性，既保证测试的可靠性，又能提高并行测试能力。

主权项

1.一种非接触式应用芯片的多通道测试仪，其特征在于：包括一主板控制模块，各功能模块通过主板控制模块上通用接口提供的并行地址总线和数据总线相连接；所述主板控制模块接收来自与之配套的计算机发送的测试指令，根据不同的功能测试的要求由其通用接口分别协调各功能模块的工作，以同时对多个非接触式芯片进行测试；所述功能模块包括：芯片端口等效电容测试模块、芯片端口等效直流特性测试模块、芯片加载信号幅度有效值测试模块、可控电压源、射频调制模块和多路独立的射频接收模块；射频调制模块提供两路独立的射频调制信号作为被测芯片的射频输入，其中，一路产生被调制的测试信号，另一路产生维持芯片能量的载波信号，当并行测试的多个芯片需要接收同样的指令时，被调制的测试信号同时提供给各被测试芯片，当并行测试的多个芯片需要分别接收不同的指令时，被调制的测试信号分别提供给各被测芯片，在此期间除被提供测试信号的测试芯片以外，其它芯片接收来自另一路的载波信号，以维持非接触式芯片继续工作所需要的能量，射频接收模块与每个被测试的芯片一一对应，分别接收由各芯片返回的信号，由主板控制模块接收相应的状态和数据。