| 主权项 |
1.一种共轴式棒材检测升降装置,包括: 一X轴导螺杆,其区分成二段,分别为一光滑段、一 螺杆段,X轴导螺杆的其中一端设有一驱动马达; 一Y轴导螺杆,该Y轴导螺杆的其中一端连结于一驱 动马达; 一螺座,系供Y轴导螺杆穿置螺设,且供X轴导螺杆的 光滑段穿置枢设,Y轴导螺杆与X轴导螺杆垂直交叉, 并且呈上下分开设置; 一升降式检测取料装置,系设于X轴导螺杆的螺杆 段上,其包括可升降的一影像对位检测机构及一取 料机构。 2.如申请专利范围第1项所述之共轴式棒材检测升 降装置,其中, 设一可驱动影像对位检测机构升降的驱动机构,所 述螺杆段即穿置螺合于该驱动机构,又所述取料机 构系连结于影像对位检测机构一侧。 3.如申请专利范围第1项所述之共轴式棒材检测升 降装置,其中, 设一可驱动影像对位检测机构升降的驱动机构,所 述螺杆段即穿置螺合于该驱动机构; 设一可驱动取料机构升降的驱动机构,该驱动机构 系连结于影像对位检测机构一侧。 4.如申请专利范围第1项所述之共轴式棒材检测升 降装置,其中, 设一可驱动影像对位检测机构升降的驱动机构,所 述螺杆段即穿置螺合于该驱动机构; 设一可驱动取料机构升降的驱动机构,所述的螺杆 段即穿置螺合于该驱动机构。 5.如申请专利范围第2、3或4项所述之共轴式棒材 检测升降装置,其中,所述驱动影像对位检测机构 升降的驱动机构系包括一马达、一与马达连结的 导螺杆,藉由该导螺杆驱动影像对位检测机构升降 。 6.如申请专利范围第2、3或4项所述之共轴式棒材 检测升降装置,其中,所述驱动影像对位检测机构 升降的驱动机构系为一具有压缸轴的压缸,藉由该 压缸轴带动影像对位检测机构升降。 7.如申请专利范围第3或4项所述之共轴式棒材检测 升降装置,其中, 所述驱动影像对位检测机构升降的驱动机构系包 括一马达、一与马达连结的导螺杆,藉由该导螺杆 驱动影像对位检测机构升降; 所述驱动取料机构升降的驱动机构系包括一马达 、一与马达连结的导螺杆,藉由该导螺杆驱动取料 机构升降。 8.如申请专利范围第3或4项所述之共轴式棒材检测 升降装置,其中, 所述驱动影像对位检测机构升降的驱动机构系为 一具有压缸轴的压缸,藉由该压缸轴带动影像对位 检测机构升降; 所述驱动取料机构升降的驱动机构系包括一马达 、一与马达连结的导螺杆,藉由该导螺杆驱动取料 机构升降。 9.如申请专利范围第3或4项所述之共轴式棒材检测 升降装置,其中,所述驱动取料机构升降的驱动机 构系包括一马达、一与马达连结的导螺杆,藉由该 导螺杆驱动取料机构升降。 10.如申请专利范围第3或4项所述之共轴式棒材检 测升降装置,其中,所述驱动取料机构升降的驱动 机构系为一具有压缸轴的压缸,藉由该压缸轴带动 取料机构升降。 图式简单说明: 第一图系本创作第一种实施例的立体示意图。 第二图系本创作第二种实施例的立体示意图。 第三图系本创作第三种实施例的立体示意图。 |
