| 发明名称 |
存储介质中数据校验方法 |
| 摘要 |
本发明提供存储介质中数据校验方法，包括：组织ECC数据矩阵；对数据编码，产生行校验码和列校验码；在对ECC数据矩阵进行数据操作时，使用行校验码和列校验码对数据进行校验。本发明比单独的行校验具有更强的纠错能力，能纠正更多字节的错误，可提高校验数据的位数，容许存储介质出现较多的错误位数，并能很好地纠正这些错误。本发明能更好的支持MLC和4LC类的存储介质，达到延长存储介质的寿命，提高存储介质利用率，降低系统成本的目的。 |
| 申请公布号 |
CN101183565A |
申请公布日期 |
2008.05.21 |
| 申请号 |
CN200710124977.4 |
申请日期 |
2007.12.12 |
| 申请人 |
深圳市硅格半导体有限公司 |
发明人 |
罗挺;谭四方;成晓华 |
| 分类号 |
G11C29/42(2006.01) |
主分类号 |
G11C29/42(2006.01) |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
1.一种存储介质中数据校验方法，包括：组织ECC数据矩阵；对数据编码，产生行校验码和列校验码；在对所述ECC数据矩阵进行数据操作时，使用所述行校验码和列校验码对数据进行校验。 |
| 地址 |
518057广东省深圳市南山区高新区南区科苑南路留学生创业大厦2208号 |
