发明名称 | 液晶显示器薄膜电晶体阵列基板的检查设备及其检测方法 | ||
摘要 | 一种检查设备,适用于检测液晶显示器薄膜电晶体阵列基板,包括主腔体及设置于主腔体中的平台、发光机构及电性测试机构。平台用于承载液晶显示器薄膜电晶体阵列基板。发光机构用于照射液晶显示器薄膜电晶体阵列基板。电性测试机构用于检测经发光机构照射之液晶显示器薄膜电晶体阵列基板的电性。 | ||
申请公布号 | TW200821562 | 申请公布日期 | 2008.05.16 |
申请号 | TW095141896 | 申请日期 | 2006.11.13 |
申请人 | 友达光电股份有限公司 | 发明人 | 陈劲志;陈志祥 |
分类号 | G01M11/00(2006.01);G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | G01M11/00(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路1号 |