决定单位区间内超取样资料之方法

摘要

于某些设计中,一晶片包含取样电路由接收之讯号产生过度取样资料,与运算逻辑以决定这些过度取样资料为不同单位时区之一部份,某些单位时区中有数个过度取样资料,一般而言此不同于一数个过度取样资料,其位于单位时区之中。