发明名称 |
Al膜电极缺陷检测装置 |
摘要 |
一种Al膜电极缺陷检测装置,属于平板电视技术领域,其特征是它由安装玻璃基板(2)的检测台(10)、支架(7)、控制系统(8)、检测头(6)及背光光源(18)组成,背光光源安装在检测台(10)的下部、玻璃基板(2)的下部,支架(7)位于检测台(10)的上方,检测头(6)活动安装在滑杆(19)上并能沿滑杆(19)作X方向的左右移动,它通过连接线与控制系统(8)相连,滑杆(19)活动支承在支架(7)上并能沿支架(7)作Y方向的前后移动。本实用新型具有结构简单,制造方便,简单实用,耗时短,检测结果准确的优点。 |
申请公布号 |
CN201060837Y |
申请公布日期 |
2008.05.14 |
申请号 |
CN200720036018.2 |
申请日期 |
2007.04.26 |
申请人 |
南京华显高科有限公司 |
发明人 |
李青;张雄;朱立锋;王保平;林青园 |
分类号 |
H01J9/42(2006.01) |
主分类号 |
H01J9/42(2006.01) |
代理机构 |
南京天华专利代理有限责任公司 |
代理人 |
夏平;瞿网兰 |
主权项 |
1.一种Al膜电极缺陷检测装置,其特征是它由安装玻璃基板(2)的检测台(10)、支架(7)、控制系统(8)、检测头(6)及背光光源(18)组成,背光光源安装在检测台(10)的下部、玻璃基板(2)的下部,支架(7)位于检测台(10)的上方,检测头(6)活动安装在滑杆(19)上并能沿滑杆(19)作X方向的左右移动,它通过连接线与控制系统(8)相连,滑杆(19)活动支承在支架(7)上并能沿支架(7)作Y方向的前后移动。 |
地址 |
210061江苏省南京市高新开发区商务办公楼413室 |