| 主权项 |
1.一种往复式IC批次检测机台,系供批次检测复数 待测IC元件,该机台包含: 一供置放一供容纳复数待测IC元件之入料承载盘 的入料区; 一设置有复数分别供电性连接该等待测IC元件之 连接器、供给讯号至该等连接器及自该等连接器 取得资讯之处理器、供测试该等待测IC元件之测 试区; 一供置放一供容纳该等完测IC元件之出料承载盘 的出料区; 一组具有复数盛放座、用以自该入料区搬移该等 待测IC元件至该测试区、并自该测试区搬移该等 完测IC元件至该出料区之承载移动装置; 一具有复数对入料搬移器、供自该入料承载盘取 出对应之复数待测IC元件至该承载移动装置的入 料装置; 一具有对应该入料搬移器数目之复数对出料搬移 器、供自该承载移动装置取出对应之复数完测IC 元件至该出料承载盘的出料装置;及 一组具有对应该入料搬移器数目、供自该承载移 动装置取出该等待测IC元件至对应之各该连接器 、及自该等连接器取出该等完测IC元件至该承载 移动装置之复数对机械臂的运载装置。 2.依照申请专利范围第1项所述之往复式IC批次检 测机台,其中该出料区容纳有: 一用以置放良品完测IC元件之良品出料承载盘;及 一用以置放不良品完测IC元件之不良品出料承载 盘。 3.依照申请专利范围第1项所述之往复式IC批次检 测机台,该运载装置更包括: 复数将待测元件自该入料承载盘搬移至该承载移 动装置之该等盛放座中及由该承载移动装置之该 等盛放座中搬移至该出料承载盘之复数相对应吸 嘴。 图式简单说明: 图1为一习知检测待测IC元件机台之立体示意图; 图2为本案往复式IC批次检测机台入料搬移器之立 体示意图; 图3、4、5、6为本案往复式IC批次检测机台运作第 一较佳实施例各动作之俯视图 |
